ಭಾಗದ ಸಂಖ್ಯೆ :
SN74BCT8373ADWRG4
ತಯಾರಕ :
Texas Instruments
ವಿವರಣೆ :
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
ತರ್ಕ ಪ್ರಕಾರ :
Scan Test Device with D-Type Latches
ಸರಬರಾಜು ವೋಲ್ಟೇಜ್ :
4.5V ~ 5.5V
ಕಾರ್ಯನಿರ್ವಹಣಾ ಉಷ್ಣಾಂಶ :
0°C ~ 70°C
ಆರೋಹಿಸುವಾಗ ಪ್ರಕಾರ :
Surface Mount
ಪ್ಯಾಕೇಜ್ / ಪ್ರಕರಣ :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
ಪೂರೈಕೆದಾರ ಸಾಧನ ಪ್ಯಾಕೇಜ್ :
24-SOIC